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        首頁    角度衍射測量    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
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        KXR-4100系列雙轉角晶片測角機

        用于雙轉角石英晶片的角度測量。

        主要特點

         

        1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。

        2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。

        3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。

         

        統計功能

         

        —動態中心值指示

        —動態標準偏差值指示

        —測量數據列表顯示

        —模擬分選統計

         

        測量模式

         

        放置一個晶片,自動整理,自動掃描測量。


        技術參數

         

        KXR-4100

        Φ:18°30′0″- 26°00′0″

        θ:33°15′0″- 34°30′0″

        KXR-4102

        Φ:0°0′0″- 8°30′0″

        θ:34°15′0″- 35°45′0″

        外形尺寸(長寬高)

        725*715*1450mm

        重量

        198kg

        屏幕

        8英寸觸控屏

        輸入電源

        220V±10%,50-60Hz,0.65A

        輸入氣源

        0.5MPa,20L/min潔凈氣源

        衍射方式

        二級衍射 

        光路調整方式

        可控光軌調整裝置

        操作方式

        人工置片,自動整理±X方向辨識測量和分類

        靜態重復性測試標準偏差

        約3″(10次,不同角度晶片會有差異)

        可測量晶片規格

        X向:12-40mm,Z向:12-40mm

        數據呈現

        實時提供每片數據;數據以統計表  形式顯示在觸控屏上

        數據輸出

        提供以太網傳輸接口、SD卡 

         

         

         

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